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非晶材料磁阻抗測試儀 BKT-4A
性能參數:
1. 系統控制主機:1路恒流源0.3mA~50mA;2路4 1/2數字電壓表;1塊USB接口24bit數據采集卡;功耗:<50W。
2. 自動掃描電源:0~±5A,磁場掃描速率:0.01A/s~1.0A/S。
3. 亥姆霍茲線圈:0~±150Gs;直徑:Φ260mm;均勻區:30x30mm。
4. 探頭電路技術參數:輸入信號動態范圍:±30 dB;輸出電平靈敏度:30mV / dB;,輸出電流:8mA;,轉換速率:25 V /μs;相位測量范圍:0~180°;相位輸出時轉換速率:30MHz;響應時間:40 ns~500 ns;測量夾頭間隔10mm。
5. 計算機:PC兼容機,Windows XP、Windows 7操作系統。
6. 數據采集軟件:運行環境Windows XP、Windows 7操作系統。
功能用途:
可測量非晶材料磁阻抗特性:Z/Θ,R/X隨意磁場的變化,頻率范圍1mHz~40MHz。
測試樣品送樣要求:
細絲狀樣品長度大于10mm